☰
АНАЛИТИЧЕСКИЕ ПРИБОРЫ
Монохроматоры, спектрографы, спектрометры, лазеры от производителя СОЛАР ТИИ
 Аналитические приборыСпектральные приборыЛазеры 
АНАЛИТИЧЕСКИЕ ПРИБОРЫ
 
    О компании      Контакты
 

LEA-S500 — Лазерный анализатор элементного состава

Лазерный анализатор элементного состава (лазерный атомно-эмиссионный спектрометр - LIBS) LEA-S500

Лазерный анализатор элементного состава LEA-S500 является лазерным атомно-эмиссионным спектрометром (LIBS) с широкими аналитическими возможностями. В приборе объединены новейшие достижения спектроскопии, лазерной техники и аналитического программного обеспечения. Это полностью автоматизированный спектрометр, позволяющий анализировать состав различных твёрдых и порошкообразных материалов:

  • металлы и сплавы;
  • керамика;
  • стекло;
  • пластмассы;
  • примеси в чистых материалах;
  • прессованные порошки.

Применение лазера специальнѕой конструкции в качестве источника возбуждения спектров позволяет:

  • обеспечить анализ токопроводящих и нетокопроводящих материалов;
  • значительно ослабить межэлементные влияния, что даёт возможность построить общую калибровочную кривую для большого диапазона концентраций;
  • исключить предварительную подготовку поверхности пробы;
  • обеспечить возможность выполнения анализа состава и толщины покрытий, послойного анализа, анализа тонких плёнок, анализа состава включений и структурных составляющих.

Использование в LEA-S500 спектрографа с высокой разрешающей способностью обеспечивает получение высококачественного плоского оптического поля, свободного от аберраций. Применение многоэлементной системы регистрации спектра (ПЗС-камера с 2048 светочувствительными элементами) обеспечивает высокую скорость получения информации. Тройная (механическая, электронная и программная) защита от воздействия лазерного излучения обеспечивает полную безопасность при эксплуатации анализатора.

Применение

  • Чёрная и цветная металлургия
  • Машиностроение
  • Строительные материалы
  • Добыча и переработка сырья
  • Геологическая промышленность
  • Полупроводниковая промышленность
  • Материаловедение
  • Научные исследования в институтах и учебных лабораториях
  • Криминалистика
  • Стекольная промышленность

Технические характеристики

Оптическая система
Вариант 1Вариант 2Вариант 3
Фокусное расстояние, мм 500500500
Дифракционная решётка, штрихов/мм * 180024003600
Диапазон длин волн, нм * 190–800190–600190–400
Дисперсия, нм/мм * 1.00.70.5
Спектральное разрешение, нм * 0.0280.0200.014
Камера образцов
Размеры проб (без адаптеров) 12×12×2 мм (мин.), 75×75×40 мм (макс.)
Перемещение образца вдоль осей X-Y ±5 мм с шагом 0.001 мм (для усреднения результатов измерения и микроспектрального анализа)
Размер анализируемой зоны диа. 0.03 – 1.7 мм
Рабочая среда воздух
Откачка воздуха при необходимости
Адаптеры для проволоки, фольги и образцов малого размера
Источник возбуждения
Тип источника специальный Nd:YAG лазер с модуляцией добротности
Средняя энергия в импульсе 100 мДж
Нестабильность энергии импульсов не более ±3% из 99% импульсов
Регистрация спектра
Детектор линейная ПЗС-камера, 14 bit, USB-интерфейс, 2048 светочувствительных элементов (возможны другие типы детекторов)
Регистрация полного спектра (панорамная)
Минимальные требования к компьютеру
ОС Win 98/ME/2000/XP
Процессор P-IV / 2 ГГц или аналогичный
Объём оперативной памяти 256 Мб
HDD 40 Гб
Видеокарта VIVO (Video-In, Video-Out), GeForce-3 (ASUSTeK)
Монитор 17", разрешение не менее 1024×768, True Color
Привод устройство чтения компакт-дисков CD-R
Порты COM (RS-232) — 2 шт; Ethernet 100 Base-T (RJ-45); USB-порт
Аксессуары принтер, АС, дополнительный порт Ethernet 100 Base-T для локальной сети, CD-RW
Программное обеспечение (Win9x/2000/XP)
Автокалибровка длин волн есть
Индикация отклонения от указанного типа материала есть
Контроль неучтённых примесей есть
Метрологическая оценка результатов анализа есть
Графическое представление аналитического сигнала есть
Базы данных спектральных линий; стандартных образцов; типов материалов
Распечатка и математическая обработка результатов анализа есть
Аналитические программы
Аналитические программы (методология) для анализа химического состава сплавов на основе алюминия, никеля, меди, титана и др.; различных типов сталей и чугунов; токопроводящих и нетокопроводящих материалов (пластмасса, керамика, стекло, хрусталь и др.)
Виды анализа качественный, полуколичественный и количественный анализ различных материалов
Автоматическое определение типа материала или базового элемента есть
Общие параметры
Время анализа от 10 сек до 3 мин в одной точке (в зависимости от количества определяемых элементов)
Энергетические параметры 230 В, 50/60 Гц; 900 Вт во время измерений, 100 Вт в дежурном режиме
Габаритные размеры (ДхШхВ) 550 × 750 × 1100 мм
Масса 120 кг
Гарантированные пределы обнаружения и интервалы определяемых концентраций для ряда элементов в сплавах на основе железа, меди, алюминия и титана
Предел обнаружения, 3s, ppm (10⁻⁴ %)Железо, Min %Железо, Max %Медь, Min %Медь, Max %Алюминий, Min %Алюминий, Max %Титан, Min %Титан, Max %
Be 0.10.00052.00.00052.0
B 1.20.0050.2
C 100.054.5
Mg 0.50.0010.150.015.0
Al 1.00.0012.00.015.00.0310.0
Si 5.00.00520.00.015.00.0117.00.060.7
P 100.010.50.052.0
Ti 0.30.00110.00.012.0
V 2.00.00510.00.057.0
Cr 2.00.00530.00.011.50.010.50.053.0
Mn 0.50.00318.00.0037.00.012.00.013.0
Fe 1.00.0115.00.0052.00.012.0
Co 4.00.00515.0
Ni 0.80.00140.00.0120.00.0011.0
Cu 0.50.00110.00.0110.0
Zn 5.00.0150.00.0012.0
As 5.00.0080.5
Zr 1.00.010.30.014.0
Nb 1.00.0031.5
Mo 1.00.00520.00.017.0
Cd 1.0
Sn 10.00.0120.00.012.00.054.0
W 5.00.0116.0
Pb 20.00.010.50.0115.00.010.3
Bi 5.00.0050.1
Ag 0.30.0010.5
Sb 10.00.0051.5
Na 0.10.0011.0
Ca 1.0
Au 4.5

Документация

 Брошюра "LEA-S500 - новое поколение лазерных анализаторов" (PDF-файл, 865 Кб)
 Статья "LEA-S500 - новое в аналитической спектроскопии" (PDF-файл, 275 Кб)
 Презентация "LEA-S500 - The next generation of Laser Analyzers" (ZIP-файл, 4.7 Мб)

Часто задаваемые вопросы

Какие материалы можно анализировать на LEA-S500?
Анализ любых твердых и порошкообразных материалов: керамика, стекло, цемент; металлы и сплавы; шлаки; резины, каучуки, пластмассы; примеси и микроэлементы в чистых материалах; химические реактивы; руды, минералы и мономинеральные включения; природные материалы (глины, пески, доломит, сода, соль…); зола растительного и животного происхождения; материалы из древесины; сухой остаток жидкостей; замороженные жидкости; почвы; сухие растительные материалы и т.д.
Требуется ли подготовка поверхности пробы перед анализом?
Нет. Применение лазера специальной конструкции в качестве источника возбуждения спектров позволяет исключить предварительную подготовку поверхности пробы.
Сколько времени занимает один анализ?
Полный (многоэлементный) количественный анализ пробы с учётом пробоподготовки — от 1 до 15 минут. Качественный анализ — 50 элементов в течение 5 минут.
Насколько безопасна работа с прибором?
Конструкция анализатора элементного состава LEA-S500 обеспечивает полную и надёжную защиту обслуживающего персонала от воздействия вредных производственных и физически опасных факторов во время проведения работ.

► Запросить цену и условия поставки

 
Вверх  |  На главную  |  О компании  |  Контакты  |  Аналитические приборы |  Спектральные приборы |  Лазеры